本文选取DA为目标物,以碳量子点(CQDs)和碲化镉量子点(CdTe QDs)作为比率荧光探针的基质材料,结合硼酸化技术,比率荧光分析法和分子印迹技术,制备具有识别DA能力的比率荧光探针。
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NAC-CdTe QDs 量子点
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The optical properties of the CdTe QDs were characterized by UV-visible Spectroscopy and Fluorescent Spectroscopy.
通过紫外-可见吸收光谱和荧光光谱对其发光特性进行了系统表征和研究。
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